介質(zhì)擊穿試驗抗彎試驗微柱壓縮試驗

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  介質(zhì)擊穿試驗

  檢測項目：介質(zhì)擊穿試驗，檢測標準參考：ASTMF1662-2010檢驗特定介質(zhì)耐壓和測定膜開關介質(zhì)擊穿電，具有CMA，CNAS認證資質(zhì)。

  2023-04-15 檢測認證服務
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  抗彎試驗

  檢測項目：抗彎試驗，檢測標準參考：DIN53435-1983塑料的檢驗;對測力試樣作彎曲試驗和沖擊抗，具有CMA，CNAS認證資質(zhì)。

  2023-04-15 檢測認證服務
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  微柱壓縮試驗

  檢測項目：微柱壓縮試驗，檢測標準參考：DINEN62047-10-2012半導體器件微電機器件第1部分，具有CMA，CNAS認證資質(zhì)。

  2023-04-15 檢測認證服務
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  鎖定試驗

  檢測項目：拉拔試驗，鎖定力試驗等，檢測標準參考：DINEN60749-29-2012半導體器件機械和氣候試驗方法第，具有CMA，CNAS認證資質(zhì)。

  2023-04-15 檢測認證服務
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  抗扭強度試驗

  檢測項目：抗扭強度測試，檢測標準參考：GB/T34217-2017耐火材料高溫抗扭強度試驗方法，具有CMA，CNAS認證資質(zhì)。

  2023-04-15 檢測認證服務
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  光電倍增管測量

  檢測項目：特性測量，指標檢測，性能測試，飽和度測量等，檢測標準參考：GOST11612.1-1981光電倍增管:光電陰極的光靈敏度測量，具有CMA，CNAS認證資質(zhì)。

  2023-04-15 檢測認證服務