跌落試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed：自由跌落GB/T 2423.8-1995/IEC：1990
包裝運(yùn)輸包裝件跌落試驗(yàn)方法GB/T 4857.5-1992/ISO2248：1985
包裝運(yùn)輸包裝件編制性能試驗(yàn)大綱的定量數(shù)據(jù)GB/T 4857.18-1992/IS04180-2：1980
星用通信設(shè)備通用規(guī)范GJB367A-2001
星用計(jì)算機(jī)通用規(guī)范GJB322A-1998
星用電子測(cè)試設(shè)備通用規(guī)范GJB3947A-2009
電子測(cè)量?jī)x器通用規(guī)范GB/T 6587-2012

針對(duì)跌落實(shí)驗(yàn)國(guó)家有專門的標(biāo)準(zhǔn)，跌落方式都是一角、三邊、六面之自由落體，跌落的高度是根據(jù)產(chǎn)品重量而定。分2250px、1900px、1625px幾個(gè)等級(jí)。

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跌落試驗(yàn)條件

試驗(yàn)表面：試驗(yàn)表面應(yīng)該是混凝圖或鋼制成的平滑，堅(jiān)硬的剛性表面.必要時(shí)，有關(guān)規(guī)范可以規(guī)定其他表面。
跌落高度：是指試驗(yàn)樣品在跌落前懸掛著的時(shí)候，試驗(yàn)表面與離它近的樣品部位之間的高度.
釋放方法：釋放試驗(yàn)樣品的方法應(yīng)使試驗(yàn)樣品從懸掛著的位置自由跌落.釋放時(shí)，要使干擾小。
跌落的高度：25mm，50mm，100mm，250mm，500mm，1000mm.

跌落試驗(yàn)方法
1、自由跌落
目的：確定產(chǎn)品在搬運(yùn)期間由于粗率裝卸遭到跌落的適應(yīng)性，或確定安全要求用的*低牢固等級(jí)。本試驗(yàn)主要用于非包裝的試驗(yàn)樣品，以及在運(yùn)輸箱中其包裝可以作為樣品一部分的試驗(yàn)樣品。
2、重復(fù)自由跌落
目的：確定可能頻繁跌落到硬表面的接有電纜的元件型裝置，例如連接器和小型遙控裝置，經(jīng)受重復(fù)跌落的適應(yīng)性。

跌落試驗(yàn)通常是主要用來模擬產(chǎn)品在搬運(yùn)期間可能受到的自由跌落，考察產(chǎn)品抗意外沖擊的能力。通常跌落高度大都根據(jù)產(chǎn)品重量以及可能掉落機(jī)率做為參考標(biāo)準(zhǔn)，落下表面應(yīng)該是混凝土或鋼制成的平滑、堅(jiān)硬的剛性表面。

健明迪檢測(cè)專注于各類型產(chǎn)品的可靠性試驗(yàn)、環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)、電磁兼容EMC試驗(yàn)、IP防護(hù)等級(jí)認(rèn)證、安規(guī)試驗(yàn)及產(chǎn)品認(rèn)證等一站式檢測(cè)技術(shù)服務(wù)。